地物光譜儀是測(cè)量地表植被、農(nóng)作物、土壤、巖石、水體等地物光譜的光電儀器，一般為四通道，也可裝配更多通道。整機(jī)由光學(xué)系統(tǒng)、電子線路系統(tǒng)、液晶顯示和智能化微電腦組成。主機(jī)配有接口板，并可與其他微型打印機(jī)連接，也可與IBM PC XT聯(lián)機(jī)。體型小巧輕便，野外工作可裝在三角架上，也可手持進(jìn)行測(cè)量。量測(cè)的物理內(nèi)容有亮度、照度反射率、分光反射率、光譜分布等項(xiàng)目。新設(shè)計(jì)的地物光譜儀多為雙光譜儀，即在測(cè)量地物光譜的同時(shí)也測(cè)出太陽(yáng)輻射光譜，這樣可自動(dòng)消除測(cè)量期間太陽(yáng)輻射引起的誤差。把數(shù)據(jù)的測(cè)量、采集存儲(chǔ)和運(yùn)算集于一體，是采集地物光譜數(shù)據(jù)的重要儀器，也是提取地物光譜特征信息的重要工具。
 

　　相比于常規(guī)全波段地物光譜儀，全波段采用高性能制冷型探測(cè)器，性能穩(wěn)定且分辨率成倍提升，其*的光譜細(xì)節(jié)探測(cè)能力，不僅將物質(zhì)的主要光譜特征峰很好的展現(xiàn)出來(lái)，而且能探測(cè)到更加精細(xì)的光譜特征。適用于遙感測(cè)量、農(nóng)作物監(jiān)測(cè)、森林研究到工業(yè)照明測(cè)量、海洋學(xué)研究和礦物勘察的各方面應(yīng)用。軟件操作簡(jiǎn)單方便、功能強(qiáng)大。此儀器可用做測(cè)量輻亮度、CIE顏色、光譜反射率和光譜透過(guò)率。
 

　　地物光譜儀是一種常用的光譜儀類型，用戶在操作時(shí)需要掌握一定的注意事項(xiàng)，可以更好的使用地物光譜儀。
 

　　1、實(shí)用工作曲線的確定
 

　　根據(jù)工廠冶煉情況，合金元素的含量范圍不同，確保分析精密度，須采用不同鋼種標(biāo)鋼分別制作工作曲線。做工作曲線的標(biāo)鋼數(shù)量應(yīng)該滿足分析合金的需要。
 

　　由于分析試樣是從爐中快速取樣，與標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織結(jié)構(gòu)、冶金履歷不一致，為了消除可能產(chǎn)生的偏高或偏低的系統(tǒng)誤差可采用控制試樣法。一般組織結(jié)構(gòu)的不同不會(huì)使工作曲線斜率改變，大體上只有平行移動(dòng)。因此用和分析試樣的組織結(jié)構(gòu)和冶金履歷一致的控制試樣來(lái)校正曲線的上下平移，能減少系統(tǒng)誤差。
 

　　2、選好控制試樣
 

　　光譜分析大都采用控制試樣法，這就會(huì)遇到有關(guān)控制標(biāo)鋼來(lái)源、化學(xué)成分的確定及使用等一系列問題。對(duì)一些新開展光譜分析工作的單位尤需注意。
 

　　3、分析試樣操作
 

　　分析試樣經(jīng)切割以后、要磨去表面氧化層，用研磨機(jī)磨樣時(shí)，試樣和標(biāo)鋼要同時(shí)操作，要力求操作一致，用力過(guò)大則易使表面氧化。磨紋要求一致，不應(yīng)有交叉紋。試樣磨后不宜放置過(guò)長(zhǎng)，否則造成試料表面氧化，影響分析結(jié)果。一般可采用中軟，粒度為360的砂輪片磨樣，此外也可用砂紙或砂輪磨樣。